傅立葉變換紅外光譜儀

Jasco FT/IR-6X傅立葉變換紅外光譜儀是研究級的FTIR，具備高 S/N，高分辨率等優(yōu)異的基本性能。另外還支持測量波數(shù)的擴展和真空測量。通過用干涉儀更換光源，分束器，窗板，檢測器，可將測量波數(shù)擴展到 25000 ～20 cm ^-1，該干涉儀為堅固的光學(xué)基座保護光學(xué)系統(tǒng)提供穩(wěn)定的高精度數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品特點  

? 真空測量：FT/IR-6X和8X可以具有真空型外殼，可以比吹掃更有效地消除大氣影響，從而可以檢測遠紅外區(qū)域的微小峰值并進行高精度測量。它對于監(jiān)測低于 ppm 的低濃度氣體和薄膜測量非常有效。

? 穩(wěn)定提供高精度數(shù)據(jù)的干涉儀：FTIR **的干涉儀使用 28° 入射邁克爾遜干涉儀來提高通量并改善偏振特性。采用高精度DSP控制來控制動鏡，并通過將回射元件與角錐鏡相結(jié)合來保持穩(wěn)定的干涉狀態(tài)。

? 光學(xué)系統(tǒng)由堅固的光學(xué)底座保護：干涉儀安裝在鑄鋁光學(xué)底座上，該底座具有堅固的肋結(jié)構(gòu)，并由隔震腿支撐，可保護其免受振動和變形，并長期提供穩(wěn)定的數(shù)據(jù)。高度密封的干涉儀外殼可保護內(nèi)部光學(xué)元件。高亮度、長壽命的陶瓷光源、溫控 DLATGS 檢測器和防潮 KRS-5 窗板讓您能夠長期放心地進行測量。

? FT/IR-8X支持步進掃描測量，可有效跟蹤液晶中電場排列的瞬態(tài)現(xiàn)象。此外，作為擴展功能，還可以使用利用相位調(diào)制的紅外聲學(xué)測量裝置進行深度輪廓測量。

產(chǎn)品參數(shù)

? 高 S/N55000：1

? 高分辨率 0.07 cm ^-1

? 支持快速掃描步進掃描

? 25000 到 20 cm ^-1 的可擴展性

? 真空對應(yīng)